|
Рентгеновский дифрактометр Шимадзу Maxima_X XRD-7000 предназначен для решения широкого круга исследовательских и промышленных задач, среди них: качественный и количественный фазовый анализ, рентгеноструктурный анализ, определение остаточного аустенита, степени кристалличности и размеров кристаллитов, исследование тонких пленок, анализ напряжений и их картирование и др.
Для решения этих и других задач компания Шимадзу предлагает ряд программных пакетов, а также дополнительных аксессуаров. Предлагаются программы для разделения перекрывающихся пиков, расчета параметров элементарной ячейки, определения сингонии, RIETAN для структурного анализа методом Ритвельда, базы данных PDF2, PDF4 и PDF4+ с программой для поиска рентгенограмм, расчета ориентации волокон и др. Для проведения количественного анализа рекомендуется применения приставок для вращения в плоскости образца. Для отделения К? линий от? компоненты, а также от флуоресцентного излучения применяются фокусирующие изогнутые противомонохроматоры, применение которых существенно повышает соотношение сигналшум. Проведение анализа методом параллельного пучка стало возможным благодаря применению поликапилярной оптики и плоского противомонохроматора, что важно для исследования образцов с неровной поверхностью. Использование термостатируемых камер позволяет проводить дифрактометрические исследования как при низких температурах (приставка ТТК450 для работ от 193 до 450°С), так и при высоких температурах (приставка НА1001 для измерений от комнатной температуры до 1500°С), что находит применение при анализе фазовых переходов и химических процессов. Применение приставки для автоматической смены образцов (на 5 или 12 образцов) повышает автоматизацию процесса измерения. Специальный гониометр с приставкой RTheta для дифрактометра XRD7000 позволяет исследовать большие объекты, вплоть до 400 х 550 х 400 мм
|
