Анализатор поверхности металла МЕТАР-2010 разработан для быстрого анализа металлов. Это первый в мире анализатор количественного содержания компонентов на большой площади. Его функции включают в себя элементный анализ сегрегации, количественный анализ и анализ распределения включений на поверхности металла, анализ пористости и анализ состава металла. По сравнению с традиционными технологиями, анализатор металлов МЕТАР-2010 имеет отличительные преимущества, такие как легкость приготовления образца, точный и быстрый анализ.
Анализатор поверхности металлов МЕТАР-2010 применяется для анализа химического состава и структуры металлических образцов в исходном состоянии. Прибор может непосредственно усиливать спектральные сигналы в обширной области в металлическом материале, генерируемые без-предварительного зажигания, непрерывным сканированием искрового разряда, и проводить быстрый сбор данных с помощью искрового спектра. Данные об исходном состоянии химического состава и концентраций в различных положениях на поверхности образца и информация о текстуре поверхности может быть получена с целью количественного анализа состава и состояния образца.
Технология одноместного искрового разряда высокоскоростного сбора данных, разработанная нашими специалистами используется для сбора синхронных данных об интенсивности и позиции одного искрового разряда в режиме реального времени и в многоканальном режиме для количественного анализа и анализа распределения элементов и включений.
Система непрерывного возбуждения
Высоко-стабильный источник искрового разряда
Частота 500 Гц
Индуктивность 120 Гн
Электрическая емкость 5 Ф
Напряжение 400 В
Оптическая система
Спектральный диапазон 120 - 800 нм
Разрешение лучше чем 0,01 нм
Вакуумная оптическая система Система Пашена-Рунге, фокусное расстояние 750 мм
Система сканирования
Консольного типа связана с осями XY
Перемещение (ось ① X 300 мм, ось ② Y 300 мм, ось ③ Z 150 мм)
Привод Цифровой, AC, сервопривод
|